新款GCSTD系列 介电常数绝缘性能测定仪

技术：自主研发+高校实验室联合开发

品质：对产品的精益追求+严格规范的测试

价格：科学的管理成本+高效率合作降低成本

客户：大中院校+科研机构+质检部门+实验室等

源于精测  精品摇篮 之选  自强不息  厚德载物  厚积薄发 高速增长

新款GCSTD系列 介电常数绝缘性能测定仪

介质材料：塑料、陶瓷和其它材料的介电常数和损耗角评估

磁性材料：铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估

半导体材料：半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性

液晶材料：液晶单元的介电常数、弹性常数等C-V特性

测试电桥参数 

测试参数 C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR 

测试频率 20 Hz～2MHz,10mHz步进 

测试信号电 f≤1MHz 10mV～5V,±（10%+10mV） 

平 f>1MHz 10mV～1V,±（20%+10mV) 

输出阻抗 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω 

基本准确度 0.1% 

 L 0.0001 uH ～ 9.9999kH 

 C 0.0001 pF ～ 9.9999F 

 R,X,Z,DCR 0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ 

显示范围 Y, B, G 0.0001 nS ～ 99.999 S 

 D 0.0001 ～ 9.9999 

 Q 0.0001 ～ 99999 

 θ -179.99°～ 179.99° 

测量速度 快速: 200次/s（f﹥30kHz） ,100次/s（f﹥1kHz） 

中速: 25次/s, 慢速: 5次/s

校准功能 开路 / 短路点频、扫频清零，负载校准 

等效方式 串联方式, 并联方式 

量程方式 自动, 保持 

显示方式 直读, Δ, Δ% 

触发方式 内部, 手动, 外部, 总线 

内部直流偏 电压模式 -5V ～ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步进 

新款GCSTD系列 介电常数绝缘性能测定仪